Giải pháp đo tham số xung theo nguyên lý số hoá thời gian trên công nghệ FPGA
105 lượt xemDOI:
https://doi.org/10.54939/1859-1043.j.mst.97.2024.173-176Từ khóa:
FPGA; Đo tham số xung; Xử lý tín hiệu số; Phân tích kiểm tra.Tóm tắt
Quá trình sửa chữa, bảo dưỡng các mô đun xử lý tín hiệu số luôn đòi hỏi nhiều thiết bị đo lường chuyên dụng, thời gian thực hiện kéo dài và phức tạp. Để giảm thiểu thời gian, chi phí sửa chữa bảo dưỡng kỹ thuật, nhóm tác giả đề xuất phương án thiết kế bộ đo tham số xung đa kênh trên công nghệ FPGA trên cơ sở nguyên lý biến đổi số hóa thời gian (time-to-digital converter). Các bộ đo tham số xung này đang được ứng dụng trong thiết bị Phân tích kiểm tra đánh giá chất lượng các mảng mạch 394ПП04-KT.
Tài liệu tham khảo
[1]. Đài Ra đa KACTA2E2, Thuyết minh kỹ thuật, Tập 4, Hệ thống thiết bị thu và thiết bị xử lý. Quân chủng phòng không không quân.
[2]. The XYZs of Oscilloscopes, Primer, Tektronix, (2016).
[3]. R.Machado, J. Cabral and F. S. Alves, “Recent developments and challenges in FPGA-based time-to-digital converters”, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 68, no. 11, pp.4205-4221, (2019).
[4]. B. V. Bockel, J. Prinzie, P. Leroux, “A delay locked loop for time-to-digital converters with quick recovery and low hysteresis,” TWEPP (2018).
[5]. D. Chaberski, “Time-to-digital-converter based on multiple-tapped-delay-line,” Measurement, Vol.92, pp.103-113, (2016).
[6]. L. Vercesi, A. Liscidini, R. Castello, “Two-dimensions Vernier time-to-digital converter,” IEEE J. Solid-State Circuits, 45 (8), pp.1504-1512, (2000).
[7]. J.Kalisz, “Review of methods for time interval measurement with picosecond resolution”, Metrologis, vol.41, pp.99-145.
[8]. Digital Storage Oscilloscope GDS-3352, User Manual, GwInstek.
